СТРУКТУРНЫЕ СВОЙСТВА АМОРФНЫХ УГЛЕРОДНЫХ ПЛЕНОК

Изложены результаты изучения структурных и электронных свойств аморфных углеродных плёнок, осажденных методом лазерной плазмы на сапфире. Методами рентгеновского структурного анализа, атомной силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света определены топография поверхности, степень структурного упорядочения, размер кристаллитов в углеродных пленках.

Библиографический список

1.Qindeel R. et al. //Journal of Non-Oxide Glasses, 2010. V. 1. P. 191-197.

2.Иванов-Омский В.И. и др. //Физика и техника полупроводников, 2000. V. 34. P. 1409-1416.

3.Robertson J. //Phys. Rev. B, 1987. V. 35. P. 2946-2957.

4.KumarN. //Физика твердого тела, 2013. Т. 55. С. 1962-1972.

5.Carbon Products [Electronicresource]. – http://www.thickfilmtech.com/ CarbonProducts_R202009.pdf.

6.Илясов В.В. //Вестник ДГТУ, 2012. Т 1(62). Вып. 1. С. 31-35.

7.Ferrari A. C. //Phys. Rev. Lett., 2006. V. 97. P. 187401-187405.

8.Оскомов К.В. //Письма в ЖТФ, 2009. Т. 35. Вып. 19. С. 20-29.

9.Образцов А.Н. //ЖЭТФ, 2008. Т 133. Вып. 3. С. 654-662.

1 . Pisarik P. //Applied Physics A, 2018.V. 124 (1). P. 1-9.

Комментарии к статье

Авторизуйтесь, чтобы прокомментировать статью.