О ПОВЕРХНОСТНОЙ СЕГРЕГАЦИИ И ФАЗОВЫХ ДИАГРАММАХ НАНОСИСТЕМ Au-Si

При поддержке

Исследования выполнены при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках выполнения государственного задания в сфере научной деятельности (проект № 0817-2020-0007).

Библиографический список

    1. ЖуховицкийА.А., Шварцман Л.А. Физическая химия. М.: Металлургия, 1987. 688с.

    2.Kaptay G. // Journal of Materials Science. 2012. V. 47. P. 8320-8335.

    3.СамсоновВ.М., ТалызинИ.В., КартошкинА.Ю., СамсоновМ.В. // Физика металлов и металловедение. 2019. Т. 120. № 6. С. 630-636.

    4.ТалызинИ.В., СамсоновМ.В., СамсоновВ.М., ПушкарьМ.Ю., ДронниковВ.В. // Физика и техника полупроводников. 2019. Т. 53. № 7. С. 964-970.

    5.ТалызинИ.В., КартошкинА.Ю., ВасильевС.А., СамсоновМ.В., СамсоновВ.М. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. 2019. № 11. С. 364-373.

    6.Okamoto H., Massalki T.B. // Bulletin of Alloy Phase Diagrams. 1983. V. 4. I. 2. P. 190-198.

    7.Hourlier D., Perrot P. // Materials Science Forum. 2012. V. 653. P. 77-85.

Комментарии к статье

Авторизуйтесь, чтобы прокомментировать статью.